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简要描述：

金属高温导热系数测试仪 型号：DRJ-I该仪器采用试样直接通电纵向热流法，于80°～900℃温度范围内测量金属无相变温度下的导热系数，由计算机自动完成测试。满足了材料检测研究部门对金属材料导热系数的测试要求。仪器参考标准：GB/T3651-2008《金属高温导热系数测量方法》。

产品介绍： 金属高温导热系数测试仪   型号：DRJ-I
该仪器采用试样直接通电纵向热流法，于80°～900℃温度范围内测量金属无相变温度下的导热系数，由计算机自动完成测试。满足了材料检测研究部门对金属材料导热系数的测试要求。仪器参考标准：GB/T3651-2008《金属高温导热系数测量方法》。 
金属高温导热系数测试仪  主要技术指标 
1、 导热系数测试范围：5～400W/m·K； 
2、 准确度：优于5%； 
3、 对实验温度实现可控状态下的测试，电炉高温度1000℃； 
4、 电源：220V，50HZ； 
5、 连接上位机，实现计算机自动测试、实现数据打印输出； 
6、 试样尺寸要求：棒状试样：Ф3-5×220（mm） 
丝状试样：Ф1-3×20-45（mm）

产品名称：数字式四探针测试仪
产品型号：SZT-1数字式四探针测试仪型号：SZT-1

SZT-1型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。 
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率小，使用寿命长。 
SZT-1型数字式四探针测试仪技术参数： 
1． 测量范围： 
电阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm 
方块电阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ 
电阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω 
导电类型鉴别：电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm 
2． 可测半导体材料尺寸 
直径：φ15~100 mm 
长度：≤400mm 
3． 测量方法： 
轴向、断面均可 
4． 显示方式：31/2,数显,性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。 
5． 恒流源： 
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。 
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA 
（3） 误差：±0.5%读数±2个字 
6.四探针测试探头 
(1) 探针间距:1mm 
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0% 
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W 

 

产品名称：便携式声波测厚仪 声波测厚仪 
产品型号：TT340便携式声波测厚仪 声波测厚仪  型号：TT340 
1、具有铸件测试功能；  
2、设有耦合提示、低电压提示； 
3、关机方式：手动和自动关机等功能（无操作三分钟后）； 
4、小值捕捉：可选择显示当前厚度值或小厚度值 
5、数据存储：可存储500个测量值和五个声速值 
6、声速可调：可利用已知厚度试块测量声速； 
7、增益设置：具有高低增益设置功能 
8、公英制转换：可选择mm或inch 
9、背光显示功能，适合在光线不好的环境中进行测量。 
性能 TT340 
测量范围 1.2—300mm（钢，由探头决定）  
5.0~40mm（铸铁）  
显示分辨率 0.1mm  
声速范围 1000—9999m/s 
工件表面温度 -10~+60 
显示 四位大屏幕背光数字显示，可调对比度  
测量精度 +_(1%H+0.1)mm, H为实际厚度值  
管材测量下限 ￠20mmX3.0mm(5P￠10探头,钢材) 
操作时间 可连续操作100小时（2个AA型碱性电池，1.5V/个，无背光时） 

手提箱1个 
主机1台 
主机保护套1套 
探头5P￠10/90探头1支；TSTU32铸铁探头1支 
电池AA型碱性电池2节 
耦合剂1瓶 
随机文件1套 

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